DTS-Phát minh đột phá phát hiện sớm lỗi của điện thoại di động và pin mặt trời khi đang sản xuất

Các kỹ sư trong nhóm nghiên cứu đã phát triển một công cụ mới để giúp các nhà sản xuất phát hiện ra các khiếm khuyết hoặc các tính năng không mong muốn trong các thiết bị công nghệ hàng ngày như điện thoại di động, pin và pin Mặt Trời, một cách dễ dàng hơn và sớm hơn nhiều trong quá trình chế tạo.

Tác giả chính, Tiến sỹ Nguyễn Trọng Hiếu cho biết phát minh này hoạt động bằng cách chụp các hình ảnh độ phân giải cao của vật liệu bán dẫn trong vòng vài giây. Những hình ảnh này có thể cho thấy những khiếm khuyết tiềm năng của vật liệu. Nhóm nghiên cứu gọi công nghệ này "phép màu của tốc độ và không gian", nhanh hơn hàng chục nghìn lần so với các kỹ thuật hiện đang được sử dụng. Phát minh này mở ra cơ hội phát triển một thế hệ mới các công cụ phát hiện khiếm khuyết với độ phân giải cực cao và chính xác cho cả hai lĩnh vực nghiên cứu và công nghiệp.

Theo Tiến sĩ Nguyễn Trọng Hiếu, phần hay của nghiên cứu này là nhóm nghiên cứu đã sử dụng các công cụ thông thường có sẵn trên thị trường và chuyển đổi chúng thành một thứ phi thường. Nhóm nghiên cứu đã thử nghiệm phát minh này trên nhiều loại pin Mặt Trời perovskite hiện đại khác nhau được sản xuất tại ANU và kết quả thử nghiệm đã được xác nhận độc lập với nhiều kỹ thuật có độ phân giải thấp hoặc tốc độ thấp khác. Hiện nhóm nghiên cứu đang tinh chỉnh phát minh để có thể thương mại hóa.

Tiến sĩ Nguyễn Trọng Hiếu sinh năm 1988, sang Australia học vào đầu năm 2013 với học bổng toàn phần tiến sĩ của ANU về nghiên cứu vật liệu bán dẫn cho pin Mặt Trời, lấy bằng tiến sĩ vào năm 2016. Năm 2017, Tiến sĩ Hiếu sang Mỹ làm viêc ở Phòng thí nghiệm quốc gia về năng lượng tái tạo (https://www.nrel.gov/). Đầu năm 2018 đến nay, Tiến sĩ Hiếu trở về ANU để làm nghiên cứu và giảng dạy trong lĩnh vực công nghệ điện Mặt Trời.